Inregistrarea caracteristicilor unui tranzistor cu efect de camp
Experimentul se concentreaza pe inregistrarea caracteristicilor unui tranzistor cu efect de camp (field-effect transistor – FET). Caracteristica tranzistorului, adica curentul de scurgere ID, este inregistrata si diagramata in functie de tensiunea UDS intre dren si sursa la o tensiune de poarta UG constanta.
Caracteristica unui Tranzistor cu Efect de Camp (FET):
Se masoara si se diagrameaza caracteristica unui tranzistor cu efect de camp (FET).
Caracteristica masurata este curentul de drenare ID in functie de tensiunea UDS intre dren si sursa la o tensiune de poarta UG constanta.
Obiectivele Experimentului:
- Inregistrarea Caracteristicii unui Tranzistor cu Efect de Camp:
- Masurarea si diagramarea curentului de drenare ID in functie de tensiunea UDS la o tensiune de poarta UG constanta.
Principii Fundamentale:
- Tranzistoarele cu efect de camp (FET) sunt componente esentiale in tehnologia circuitelor electronice.
- In FET-uri, conductivitatea canalului de transport al curentului este modificata cu ajutorul unui camp electric generat de poarta, fara a aplica putere.
- In experiment, caracteristica tranzistorului FET este masurata pentru a intelege comportamentul sau in functie de variabilele de tensiune specificate.
Relevanta Academica si Practica:
- Experimentul ofera o perspectiva practica asupra modului in care tranzistoarele cu efect de camp reactioneaza la variatii de tensiune.
- Datele obtinute sunt utile pentru studenti si cercetatori interesati de caracteristicile si aplicatiile tranzistoarelor FET.
- Intelegerea caracteristicilor FET este cruciala in proiectarea circuitelor electronice si a dispozitivelor electronice.
Concluzii si Observatii:
Inregistrarea caracteristicilor tranzistorului FET furnizeaza date esentiale pentru analiza si proiectarea circuitelor electronice.
Variabilitatea curentului de drenare ID in functie de tensiunea UDS la o tensiune de poarta UG constanta este un aspect cheie al caracteristicilor FET.
Experimentul aduce contributii semnificative in intelegerea caracteristicilor tranzistoarelor cu efect de camp (FET).